英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢
>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域,實(shí)現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測器可實(shí)現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點(diǎn)位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時(shí)對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量
配合用戶友好的軟件界面,可以輕松地進(jìn)行日常測量。
膜厚儀EDX8000B可分析的常見鍍層材料
可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應(yīng)用:如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe等
多涂鍍層應(yīng)用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe等
合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應(yīng)用:如NiP/Fe, 同時(shí)分析鎳磷含量和鍍層厚度
全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時(shí)對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量配合用戶友好的軟件界面,EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀,可以輕松地進(jìn)行日常測量。材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,因此,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。
EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀-英飛思科學(xué)由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司位于蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號(hào)一能科技園2號(hào)樓407室。在市場經(jīng)濟(jì)的浪潮中拼博和發(fā)展,目前英飛思科學(xué)在分析儀器中享有良好的聲譽(yù)。英飛思科學(xué)取得全網(wǎng)商盟認(rèn)證,標(biāo)志著我們的服務(wù)和管理水平達(dá)到了一個(gè)新的高度。英飛思科學(xué)全體員工愿與各界有識(shí)之士共同發(fā)展,共創(chuàng)美好未來。溫馨提示:以上是關(guān)于EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀-英飛思科學(xué)的詳細(xì)介紹,產(chǎn)品由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司為您提供,如果您對蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應(yīng)商或者讓供應(yīng)商主動(dòng)聯(lián)系您 ,您也可以查看更多與分析儀器相關(guān)的產(chǎn)品!
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