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蘇州特斯特電子科技有限公司
主營：失效分析設(shè)備,檢測服務(wù),檢測儀器
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4探頭超聲波掃描顯微鏡分析系統(tǒng)，四探頭系統(tǒng)，微光顯微鏡價格，同時使用4只換能器- 掃描速度：2000 mm/s- 與其它品牌相比掃描30%- 掃描范圍：1000mm×700mm- 小掃描范圍：200μm×200μm- 帶寬：550MHz- 放大倍數(shù)：250倍- 新型FCT換能器。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。設(shè)備主要來自于歐美日等測試設(shè)備制造國家。
EMMI微光顯微鏡
微光顯微鏡（Emission Microscope，顯微鏡， EMMI）是常用漏電流路徑分析手段。對于故障分析而言，EMMI顯微鏡，微光顯微鏡（Emission Microscope， EMMI）是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHP（Electron Hole Pairs）Recombination會放出光子（Photon）。如在P-N結(jié)加偏壓，此時N阱的電子很容易擴(kuò)散到P阱，而P的空穴也容易擴(kuò)散至N，微光顯微鏡，然后與P端的空穴（或N端的電子）做EHP Recombination。在故障點(diǎn)定位、尋找近紅外波段發(fā)光點(diǎn)等方面，微光顯微鏡可分析P-N接面漏電；P-N接面崩潰；飽和區(qū)晶體管的熱電子；氧化層漏電生的光子激發(fā)；Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問題.
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第4年
