影響高頻紅外碳硫儀分析結(jié)果穩(wěn)定性的因素

1．灰塵的影響

分析過(guò)程中灰塵的積累所造成的吸附也是影響分析結(jié)果穩(wěn)定性的重要因素，該影響在分析低含量樣品時(shí)體現(xiàn)的尤為明顯。例如，在分析硅鐵時(shí)，全自動(dòng)碳硫分析儀器價(jià)格，一般采用的方法是：0.2g錫+0.2g樣品+0.5g純鐵+1.5g鎢粒。由于錫粒的加入，燃燒時(shí)產(chǎn)生的灰塵較大。在經(jīng)過(guò)20次樣品分析后，硫的結(jié)果比一次分析結(jié)果偏低2ppm以上，隨著分析次數(shù)的增加，此偏差越來(lái)越大。而清理掉灰塵過(guò)濾器中的灰塵后，分析結(jié)果與次分析結(jié)果一致。因此，分析過(guò)程中，灰塵過(guò)濾器中的灰塵積累應(yīng)及時(shí)清理。

2．溫度的影響

溫度對(duì)分析結(jié)果穩(wěn)定性的影響主要體現(xiàn)在三個(gè)方面。首先，對(duì)粉塵過(guò)濾器的溫度影響。在第6個(gè)因素中粉塵對(duì)分析氣的吸附效果，相同的灰塵量溫度越高，氣體的吸附量越少。其次，氣體分析的基礎(chǔ)離不開(kāi)氣體狀態(tài)方程，紅外分析系統(tǒng)恒溫控制的溫度不同，會(huì)造成分析氣體體積的變化，從而一定量的分析氣體在不同溫度下通過(guò)固定長(zhǎng)度紅外池的時(shí)間不同。另外，紅外分析系統(tǒng)恒溫控制溫度的不同，會(huì)造成紅外光源的發(fā)射光強(qiáng)的波動(dòng)，以及熱釋電檢測(cè)器的輸出的差異，從而影響了分析結(jié)果的穩(wěn)定性。

納克高頻紅外碳硫儀測(cè)定仲鎢酸銨（APT）中微量硫樣品前處理

APT在 不 同 溫 度 下 的 分 解 過(guò)程，當(dāng)使用高頻紅外法測(cè)定 APT 中的硫時(shí)，要確保熱分解將水和銨完全除掉，保證硫測(cè)定的準(zhǔn)確性。因此溫度應(yīng)該大于482.3℃，實(shí)驗(yàn)溫度可選為500℃。為了確定實(shí)驗(yàn)時(shí)間，將樣品分別放入馬弗爐中灼燒0.5、1、1.5、2小時(shí)，發(fā)現(xiàn)1小時(shí)后樣品質(zhì)量不再變化，質(zhì)量約損失11%，因此實(shí)驗(yàn)選擇500℃灼燒1小時(shí)為樣品前處理?xiàng)l件。

高頻紅外碳硫分析儀主要構(gòu)造解析

高頻紅外碳硫分析儀分為紅外檢測(cè)部分、品牌電腦、打印機(jī)、電子天平、紅外檢測(cè)部分、高頻感應(yīng)加熱部分等五大部分，其中為重要的是高頻感應(yīng)加熱部分以及紅外檢測(cè)部分的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

高頻感應(yīng)燃燒爐內(nèi)部采用框架結(jié)構(gòu)，分為三層，上層用于過(guò)時(shí)、過(guò)流保護(hù)電路以及電磁閥控制電路，安裝高頻產(chǎn)生電路，中層安裝電源、氣路電磁閥、分析氣體的過(guò)濾干燥等器件，下層安裝高壓變壓器等。從正面看，左邊整齊放置的分別是板流指示電流表、柵流批示電流表，電流表的下方是脫脂棉除塵裝置，載氧壓力表及載氧調(diào)節(jié)旋鈕，頂氧流量計(jì)和分析氣流量計(jì)，一起右側(cè)部位是燃燒爐的燃燒區(qū)，其上方為燃燒后釋放氣體的過(guò)濾及清掃系統(tǒng)。儀器左下方是電源開(kāi)關(guān)，過(guò)時(shí)、過(guò)流復(fù)位，升、降爐開(kāi)關(guān)和氣缸，氣缸是供分析樣品時(shí)將樣品送入燃燒區(qū)及燃燒結(jié)束后將試樣取出用。

紅外檢測(cè)裝置中有模塊電源、電源插座、保險(xiǎn)絲和主機(jī)板。另有雙層屏蔽氣體分析室，室內(nèi)有碳測(cè)試室和硫測(cè)試室。

高頻紅外碳硫分析儀通過(guò)紅外碳硫分析儀與高頻燃燒爐配套使用，達(dá)到快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)鋼鐵、合金、礦石等材料中碳硫的含量，是集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)、分析技術(shù)于一體的高新技術(shù)產(chǎn)品。